| 专利名称: | 高精度强抗干扰温度测量系统及其方法 | ||
| 专利类别: | 发明 | ||
| 申请号: | 200810196362.7 | ||
| 申请日期: | 2008-9-3 | ||
| 专利号: | |||
| 第一发明人: | 姚正秋 | ||
| 其它发明人: | 叶宇、张振超 | ||
| 国外申请日期: | |||
| 国外申请方式: | |||
| 专利授权日期: | |||
| 缴费情况: | |||
| 实施情况: | |||
| 专利证书号: | 648340 | ||
| 专利摘要: | |||
| 其它备注: | |||

| 专利名称: | 高精度强抗干扰温度测量系统及其方法 | ||
| 专利类别: | 发明 | ||
| 申请号: | 200810196362.7 | ||
| 申请日期: | 2008-9-3 | ||
| 专利号: | |||
| 第一发明人: | 姚正秋 | ||
| 其它发明人: | 叶宇、张振超 | ||
| 国外申请日期: | |||
| 国外申请方式: | |||
| 专利授权日期: | |||
| 缴费情况: | |||
| 实施情况: | |||
| 专利证书号: | 648340 | ||
| 专利摘要: | |||
| 其它备注: | |||