专利名称:	大口径光学系统近场检测装置及其测量方法
专利类别:	发明
申请号:
申请日期:	2018.05.08
专利号:	ZL201810429564.5
第一发明人:	寇松峰
其它发明人:	叶宇;张志永;田源;顾伯忠;
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缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注: